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主要介绍在过去的5年中，Rostock大学物理研究所发展起来的可控降温，以及升温速度可以达到10＾6K·S-1的薄膜芯片量热仪．许多材料，特别是高分子材料的物理性质通常都强烈地依赖于其热历史，这一量热仪已经成功地用于它们的快速热处理以及同步的热力学量（如热容、焓等）的测量．从而为我们进行亚稳态结构的形成与演化、超快热处理中新的人工材料的制备等问题提供了新的研究手段，