PECVD法氮化硅薄膜的研究

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本文采用射频等离子体增强化学气相生长法,在单晶硅衬底上生长氮化硅薄膜,经X射线衍射测试发现,在晶向硅片上生长的氮化硅薄膜为晶向的外延生长膜。还用红外吸收我谱拉曼光谱和X射线我电子能谱测试了β-Si3N4的特性,讨论了它在微电子学中的应用。
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