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在监测接收机中要实现快速的ADC(Analog-To-Digital)内核处理功能检测,针对这个问题,提出了一种基于ADC内置自测(BUILD-IN SELF-TEST)技术的ADC自检系统。该系统以现场可编程门阵列(FPGA)为核心,实现了对ADC检测的控制。经过测试,系统能够快速完成对ADC芯片内核处理功能的检测。