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给出了一种基于BIST技术测试FPGA逻辑单元CLB的方法.利用本文给出的ORCA结构对CLB进行测试,可以尽可能地对CLB中的故障进行完全测试,提高测试效率,减少了测试成本.文章给出了应用这种方法进行测试的配置结构、故障覆盖率和测试中出现的问题及其解决办法.实验结果表明,文中的方法是可行的.