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采用磁控溅射法制备Dy4（C021Cu，。）96颗粒膜，研究薄膜的巨磁电阻（GMR）效应及磁性能．应用X射线衍射仪（XRD）对薄膜微观结构随退火温度的变化进行分析，采用四探针及振动样品磁强计（VSM）测量薄膜的磁电阻和磁性能．X射线衍射实验结果表明：制备态的薄膜形成了单相亚稳态面心合金结构，退火处理将促进Cu和Co的相分离．磁电阻测试发现：所有不同成分的Dyx（C021Cu79）100-x（x=0，4，8，9，12，14）薄膜样品均随着退火温度的升高，颗粒膜巨磁电阻（GMR）效应不断增大，当达到最佳退火温