【摘 要】
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随着超大规模集成电路(VLSI)设计的规模和复杂性不断增加,用于测试芯片的测试向量变的非常庞大,同时测试程序设计需考虑多种因素,从而导致测试开发工作困难程度大大增加。自
【机 构】
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中国航天科工集团第三研究院第三〇三研究所
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随着超大规模集成电路(VLSI)设计的规模和复杂性不断增加,用于测试芯片的测试向量变的非常庞大,同时测试程序设计需考虑多种因素,从而导致测试开发工作困难程度大大增加。自动测试设备(ATE)不能直接使用电子设计自动化(EDA)产生的仿真向量,需要通过转换得到ATE可识别的测试向量,测试向量的转换成为测试程序开发的关键步骤之一。本文介绍了VLSI测试向量转换的概念、向量转换的关键技术,分析了测试向量转换过程,并以可编程逻辑器件为例具体讲解VLSI测试向量转换的实现过程。另外,开发了ATE测试向量转换脚本软件,
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