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利用原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）研究硫酸盐还原菌（Sulfate Reducing Bacteria，SRB）、微生物膜和腐蚀前后铜合金材料BFe30—1—1的表面形貌，得到了高分辨率的表面形貌图，测得SRB的大小、点蚀坑的深度和直径，分析了腐蚀后BFe30-1—1的表面粗糙度参数。结合电化学参数说明，浸蚀14d的铜合金表面形成了不均匀的微生物膜，加速了试片表面的局部腐蚀。AFM作为一种具有纳米级分辨成像能力的工具，是观察材料的表面特征和腐蚀形貌及测量材料表面纳米