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采用显微傅立叶红外光谱（Micro－FT－IR）和装有液体金属离子枪的高分辨飞行时间二次离子质谱仪（TOF－SIMS）首次研究了笔石的化学组成与结构。Micro－FT－IR谱图在1680～1740cm－1和1000～1320cm－1范围内吸收强度高，而1600cm－1处吸收强度低．表明笔石是由含N、O等杂质原子基团的高分子聚合物组成，且该笔石热演化程度不高；TOF－SIMS谱图表明，笔石的二次离子峰主要集中在较低质量数处，在高质量数峰强度低，且M／Z43，105，135等峰强度高，亦证实笔石的上述组成特点。研究结果表明Micro－FT－IR和TOF－SIMS技术是煤及源岩显微组分微区成分分析的有力工具。