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原位高温X衍射是一项应用前景广阔的实验技术。该文采用原位高温X衍射实验技术对电气石进行了25～1 000℃的细致研究,实验揭示了电气石在600℃之前后晶胞参数的变化,原因在于F2e＋氧化导致晶胞收缩,并精确确定电气石中的F2e＋的氧化温度为600℃、电气石脱羟温度为400℃,显示原位高温X衍射技术是一项很有价值的实验技术。此项实验技术的缺点在于kapton（聚酰亚胺）薄膜的阻隔、导致衍射强度较低,为此提出了可能的解决办法。