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针对电路测试序列质量低而导致测试费用高的问题，提出了修改扫描选择子序列提高测试序列质量的方法．通过组合测试集转化生成测试序列，研究分析组合测试集与转化测试序列的质量．通过修改测试序列的扫描选择子序列，使其能在相同的测试时间内检测更多故障，减少测试所需时间，降低测试费用．基准电路实验结果表明，应用本文方法测试序列质量明显提高，相同故障覆盖率下，所需测试时间仅为典型方法的50％．