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针对受激辐射损耗（STED）超分辨显微术分辨率不够高的问题,研究了损耗光偏振态、相位和振幅多种物理量对焦斑的影响,以形成半峰全宽窄的圆环形损耗光焦斑。根据Richards-Wolf矢量衍射理论,建立了偏振态、相位和偏振态作用下的损耗光焦斑模型；计算了不同偏振态、不同相位振幅调制参数下损耗光焦斑的分布情况；通过优化各参量得到有效激发荧光的分布。计算结果表明,应用切向偏振时的损耗光焦斑半峰全宽优于应用径向偏振和圆偏振；相位和振幅的调制作用均能减小半峰全宽；优化后有效激发荧光的理论半峰全宽仅为13.2nm。采用