Cu掺杂对Kondo绝缘体CeNiSn低温比热的影响

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CeNiSn是一种很有趣的重费米子化合物,其基态为Kondo绝缘体.采用化学元素替代的方法研究Cu掺杂对CeNiSn多晶样品低温比热的影响.在流动高纯氩气的保护下,用电弧炉制备了一系列的多晶样品CeNi1-xCuxSn(x=0,0.02,0.06,0.08).X射线粉末衍射分析表明,制备出来的样品均为单相多晶.随着Cu掺杂量的增加,样品的晶格参数增大.采用绝热热脉冲法测量样品的比热,结果表明随着Cu掺入量的增加,相应样品的低温比热也随之增大,能隙逐渐减小.其物理机制在于,铜替代镍引起Kondo格子的无序和3d电子数的增加.
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