【摘 要】
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利用薄膜光学中的特征矩阵法,研究了缺陷层介质存在吸收(折射率含有虚部)时,远红外窄带滤光片随不同吸收系数的变化.结果表明,当n=2.2-0i变为2.2-0.03i时,滤光片始终有两个全
【机 构】
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电子工程学院脉冲功率激光技术国家重点实验室 合肥23003763811部队 文昌571339;电子工程学院脉冲功率激光技术国家重点实验室 合肥230037;
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利用薄膜光学中的特征矩阵法,研究了缺陷层介质存在吸收(折射率含有虚部)时,远红外窄带滤光片随不同吸收系数的变化.结果表明,当n=2.2-0i变为2.2-0.03i时,滤光片始终有两个全向带隙的存在,带隙宽度和带隙率均逐渐减小(n=2.2-0i时,两个全向带隙宽度和带隙率分别为8.23～8.88 μm,10.04～11.26μm,7.60％和11.46％;n=2.2-0.03i时,两个全向带隙宽度和带隙率分别为8.28～ 8.50 μm,10.15～11.16μm,2.62％和9.48％).当n=2.2-0.05i和2.2-0.1i时,滤光片都只存在一个全向带隙,带隙宽度和带隙率也同样逐渐减小(n=2.2-0.5i时,全向带隙宽度和带隙率分别为10.18 ～11.08 μm和8.47％;n=2.2-0.1i时,全向带隙宽度和带隙率分别为10.47～10.72μm和2.36％).当n=2.2-0.3i时,滤光片的全向带隙都消失了.同时,滤光片缺陷处的反射率逐渐增大,透射率和吸收率(含有吸收时)一直在减小直至接近0.本文的研究对远红外窄带滤光片的设计和实际应用提供了有价值的参考.
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