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目的
评价选择性脑低温对大鼠脑缺血再灌注时皮质小泛素样修饰蛋白(SUMO)化的影响。
方法清洁级健康雄性SD大鼠120只，8周龄，体重200～250 g，采用随机数字表法分为4组(n＝30)：假手术组(S组)、缺血再灌注组(I/R组)、选择性脑低温组(H组)和37 ℃生理盐水组(N组)。采用线栓法阻断大鼠右侧大脑中动脉，缺血2 h后I/R组拔除线栓恢复灌注，H组拔除线栓即刻由右侧颈内动脉以100 ml·kg－1·h－1速率输注10～13 ℃生理盐水20 min，N组以同样速率输注37 ℃生理盐水20 min。于再灌注后6、24和48 h时进行神经功能缺陷评分，采用TUNEL法检测缺血侧皮质细胞凋亡率，Western blot法测定缺血侧皮质SUMO特异性蛋白酶3(SENP3)、结合状态SUMO2/3表达水平。
结果与S组比较，其余3组大鼠各时点神经功能缺陷评分和细胞凋亡率升高，结合状态SUMO2/3表达上调，I/R组和N组SENP3表达上调，H组SENP3表达下调(P<0.01)；与I/R组比较，H组神经功能缺陷评分和细胞凋亡率降低，结合状态SUMO2/3表达上调，SENP3表达下调(P<0.05)。
结论选择性脑低温减轻大鼠脑缺血再灌注损伤的机制与其增强皮质SUMO化有关。