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利用混沌序列的随机性、遍历性及规律性等特点来控制遗传算法中交叉与变异操作,即混沌交叉与混沌变异,提出了一种改进的遗传算法--混沌遗传算法,并针对数字集成电路的故障完备测试集的最小化问题的具体特点,分析并设计了基于混沌遗传算法的故障测试集最小化方法,仿真实验验证了该方法的高效性与实用性,其性能明显优于标准遗传算法.