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本文提出用溶液法X荧光光谱测定沉积在镍基合金带上Nb3Sn成份比。在我低管压和管流的条件下采用二元比例法，铌锡荧光强度比与其重量比呈良好线性关系。铌锡薄层与合金基带的重量比，试液浓度，液槽中试样液面的高低等不影响铌锡的荧光强度比。方法的准确度和再现性，令人满意。
X荧光光谱法测定沉积在镍基合金带上Nb3Sn成分比
【摘 要】
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本文提出用溶液法X荧光光谱测定沉积在镍基合金带上Nb3Sn成份比。在我低管压和管流的条件下采用二元比例法，铌锡荧光强度比与其重量比呈良好线性关系。铌锡薄层与合金基带的重
【机 构】
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华侨大学应用化学系
【出 处】
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光谱实验室
【发表日期】
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1998年5期
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