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辐射场剂量特性的测量可以通过剂量率仪或谱-剂量转换为的方法为实现。其中一种谱-剂量转换的方法是通过一个G(E)函数,把测得的结果直接换算成剂量而不需解谱。本文采用这种方法,对一个д75mm×75mm的NaI(TI)探测器的能谱特性进行测量与分析,算出了该晶体的G(E)函数值及估计的误差,并用此方法与高气压电离室作了比对测量。