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随着航天技术的发展，嵌入式系统设计在航天上得到了越来越广泛的应用。静态随机存储器(SRAM)作为使用最为广泛的存储器之一，由于其高速低功耗的优良特性，在航天领域被广泛使用。目前，其功能测试还依赖于通过使用 VHDL/Verilog 编写测试端口来完成，不仅开发效率低，而且很难保证测试结果的可靠性。本文提出了一种通过嵌入式开发的方式完成对静态随机存储器(SRAM)功能测试的方法，测试方法基于可复用的 IP技术，大大提高了测试数据传输效率。通过这种方法，SRAM测试系统的二次开发基于应用层而不是底层逻辑层，大大简化了系统设计。这样不仅提高了测试效率，而且具有较好的可靠性、可配置性以及可移植性，大大降低了系统的研发成本。测试系统的可行性和有效性已经得到了实验验证。