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采用表面印迹技术合成了铜离子印迹聚烯丙基胺硅胶材料（ⅡP-PAA／SiO2），通过静态实验研究了吸附剂浓度砜对Cu（Ⅱ）离子在ⅡP-PAA／SiO2材料上吸附的影响．结果表明，随着砜增加，Cu（Ⅱ）／ⅡP-PAA／SiO2体系的吸附等温线下降，吸附体系具有明显的吸附剂浓度效应．实验数据显示吸附剂的平衡吸附量Qe与液相平衡浓度Ce和吸附剂浓度K之间具有相关性，通过Ce／Wo（液相平衡离子浓度与吸附剂浓度的比值）因子来修正经典Langmuir模型参数，所得的修正Langmuir等温式能描述和预测不同吸附剂浓度