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采用溶胶凝胶方法制备Sm掺杂CeO2粉体材料，用放电等离子烧结（SPS）方法和常规烧结方法（CS）进行压片烧制。比较两种烧结方法对材料结构与性能的影响。通过X-射线衍射（XRD）、场发射扫描电镜（FE-SEM）等手段对氧化物进行结构表征，交流阻抗谱测试电性能。结果表明，两种烧结方法所得样品均呈现单一的立方莹石结构；SPS烧结样品的晶粒尺寸和密度大干CS烧结样品，SPS烧结样品的晶粒电导率、晶界电导率及总电导率均高于CS烧结样品；550℃时SPS和CS烧结样品的总电导率分别为2．27s／m和1．87s／m。