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美国国家仪器公司（简称NI）近日在上海举办了第十三届＂PXI技术和应用论坛＂（PXI TAC,PXI Technology＆Application Cooference）。本次PXI TAC的主题为＂更智能的系统-更智能的系统测试＂,吸引了600余名行业领军人物、技术专家和相关机构代表,共同分享最新、最全、最前沿的测试领域技术干货，共同探讨PXI技术的发展趋势和应用案例。