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本文介绍了半导体探测器的主要特性的测试结果,半导体探测器谱仪在使用中的一些特性,消除外界干扰的方法。初步明确了半导体探测器的使用条件和方法。
This article describes the main features of the semiconductor detector test results, the semiconductor detector spectrometer in use of some of the features to eliminate external interference. Preliminary clear the semiconductor detector conditions and methods of use.