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随着物联网的飞速发展,物联网设备的安全问题受到了广泛的关注.物联网设备的软硬件特性导致其极易遭受各类攻击.对物联网设备的异常检测成为近年的热点,传统的基于入侵检测、流量分析等防护方式无法适用于物联网设备的软硬件环境.针对这一问题,提出了基于芯片辐射的异常检测方案,以物联网设备在工作时向外辐射的电磁波信号作为检测依据,采用遗传算法和近似熵理论对原始信号进行特征提取和选择后,利用一类支持向量机对正常行为产生的辐射信号进行训练.该方案具有无侵入的特性,无需对原有系统进行任何软硬件改造,适用于现有物联网设备