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<正> 传统测试方法难以测试片上系统(SOC),在片上系统中区分设计和测试是不可能的。对复杂数字和混合信号的器件,需及早采用设计工具将可测性融合在设计过程中。可以选择的有可测试设计(DFT)技术和内装自测试(BIST)技术。可测试设计确保片上系统中所有电路元件可被激励和被观察;BIST芯片可产生自身的测试激励,并测量相应的响应。因深知片上系统测试的重要