半导体中子嬗变掺杂中的诱生缺陷

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讨论了半导体材料中子嬗变掺杂( N T D) 诱生缺陷的三种原因,即快中子辐射损伤、原子蜕变β辐射及γ辐射反冲造成的位移损伤。简述了由它们引起的缺陷的特性、常用的鉴别手段及相应的退火方法
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