绝缘子污秽闪络事故严重威胁电力系统的安全可靠运行,目前国内外对污闪机理的研究主要是以平板模型为基础的,而研究污闪机理的关键是研究局部电弧形成后如何发展成完全闪络.开展低气压下绝缘子串直流污闪过程中局部电弧发展研究,结果表明:低气压下绝缘子串直流污闪过程中局部电弧发展中存在飘弧现象,即局部电弧由沿面电弧和空气间隙电弧2部分组成;低气压下局部电弧的发展主要决定于静电力和热浮力,静电力和热浮力随气压变化的规律存在差异,使得低气压下染污绝缘子串局部电弧的飘弧更严重;低气压下染污绝缘子串直流污闪过程中局部电弧的发展缓慢,局部电弧发展长度为绝缘子串闪络距离的60%以内时,局部电弧的发展速度小于10 m/s,在最后闪络阶段,局部电弧的发展速度剧增至30～80 m/s,绝缘子串的最终闪络不是电击穿的原因.