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以内嵌于聚合物呈非紧密接触堆积的SiO2微球阵列为模板,经HF蚀除表层SiO2微球后再经金属物理覆镀,得到81 cm^2/片的球凹阵列SERS基底。以苯硫酚为探针,所得阵列的SERS效应显著( EF高达108量级),并且重现性良好( EF的RSD〈8%);将SiO2与聚合物的体积比( RS-P )在20%-42%范围内改变,基底表面球凹均可保持六边形周期性排布,球凹的排布密度(Γ)在4.65×10^8个/cm^2-6.92×10^8个/cm^2范围内相应改变。