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J750测试系统是一种超大规模逻辑及存储器件测试系统。本文通过一系列的数据采集,同时应用统计学的分析方法,借助于Minitab统计分析软件,分别对采集到的数据进行了分析,从而得到测试系统的一些性能参数,进而可以分析出测试系统的稳定性。通过这一系列分析后,可以找到影响生产率的各种因素,大大提高测试系统的工作效率,缩短产品的复测时间,提高良品率,提高测试的准确率,进而提高生产率。