论文部分内容阅读
微观结构,机械性质和 Cu-0.5 wt % 的电的电导率上的老化处理的影响为接头材料应用的合金被调查。机械力量和电的电导率的性质与增加老化温度和时间增加。低角度和高角度谷物边界的那种谷物尺寸和部分不是的揭示的年老的立方体合金的微观结构极大地变化了;然而,传播电子显微镜学(TEM ) 分析与 50 nm 的一种尺寸展出了那 beryllides 猛冲(鸡冠和 NiBe ) 在谷物被散布。它是,因此断定这些 beryllide 猛抛改进了机械力量并且另外它是在电的电导率的改进的宠爱。