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为了测量液晶双折射率，从偏光干涉的理论公式入手，通过一定的近似，采用偏光干涉法测量液晶双折射率，进行了理论分析和实验验证，获得了较为理想的数据。结果表明，在采用偏光干涉法测量液晶材料的双折射率时，避免了对透射光谱的绝对光强进行测量，使得测量结果具有较高的精度。这一结果对液晶器件的设计、制作和使用是有帮助的。