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利用x荧光仪分析铝及铝合金中的杂质含量，对测试条件的选择、标准曲线的绘制、基体效应的校正、方法准确度、精密度几个方面进行了研究。生产实践证明：用x荧光仪测定铝及铝合金中铁、硅、锰、锌、钛、镁六种元素含量的相对标准偏差（n=10）在0.09％-3．36％之间。x射线荧光光谱分析方法精密度高、准确度高、简便、快速，分析成本低，在铝工业中完全可以应用于实际分析，是分析检测发展的重要方向。