论文部分内容阅读
为了增强SRAM型FPGA抗单粒子翻转破坏的能力并减少硬件开销,提出一种面向查找表的基于可观性度量的选择性三模冗余方法.首先定义查找表发生单粒子翻转(SEU)故障的一种可观性概念,并结合概念给出理论计算公式;然后根据计算出的查找表可观性分布筛选出SEU敏感查找表;最后插入相应的冗余电路.此方法能够以较小的冗余比例,使得电路的抗SEU性能接近全三模冗余的效果.对MCNC’91的18个规模不同的电路进行实验的结果表明,文中方法平均只需要冗余37%的查找表,并且冗余后电路的抗SEU性能为92.6%,相比全