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针对目前存储器测试算法的故障覆盖率和测试效率不能兼顾的情况,提出一种新的棋盘走步测试算法。通过对存储单元的数据构造棋盘图形,同时对地址进行升序和降序的走步,实现了快速有效的测试。结合MPC8548ECPU的硬件系统,完成了测试算法的验证。实验结果表明,该算法简单高效,适合嵌入式系统对存储器的测试应用。