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本文对温度加速寿命试验的方法和数据处理的方法作了研究.试验表明,MF_(11-470)热敏电阻器的主要失效模式是阻值漂移的间歇型失效;在普通实验条件下,采用|△R_(25)/R_(25)|>8%的失效判据较为适宜.它的寿命分布类型为η=36705h,m=0.89的两参数威布尔分布.1000h的平均失效率为4×10~(-5)h~(-1).预计降额使用条件下的平均寿命在10~5h以上.根据实验导出的老化筛选条件与实际采用的方法非常一致.