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用正电子寿命谱研究了La1.6-xNd0.4SrxCuO4(X=0.12,0.15,0.20)和La1.88Sr0.12CuO4,结果表明随着Sr掺杂量的增加,空穴载流子增加,而正电子寿命却减小,分析认为可能是正电子密度分布权重由CuO2面向Nd替代后的La(Nd,Sr)-O层转移的结果.并分析了体系的电子密度nc随Sr掺杂量的变化关系,表明随着Sr掺杂量的增加nc逐渐增大,但对同样Sr含量的La1.88Sr0.12CuO4和La1.48Nd0.4Sr0.12CuO4其仉基本相同,体现出Nd替代La对样品