论文部分内容阅读
目前TFT模块的生产过程中常伴有模块的线缺陷和点缺陷,依据TFT模块的驱动和测试原理,设计了一种由FPGA和模拟开关组成的集成测试信号源,该信号源可提供源极信号、栅极信号、栅极控制信号和公共地信号四路测试信号,此四路信号无论是在频率、占空比、延时,还是幅值上都满足对一般中小尺寸TFT液晶模块的线缺陷和点缺陷的测试要求,可以灵活方便地移植到其他模块测试中,具有通用性。