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以核桃为研究对象，探讨太赫兹时域光谱技术对其变质情况、壳厚测量的研究。首先对虫蛀、霉变、正常核桃壳、仁标样采集太赫兹时域光谱，比较分析变质与正常核桃谱图及吸收谱差异，为剔除变质核桃打下基础。其次联用透射和反射式太赫兹时域光谱系统，创建核桃壳计算公式，在获取核桃壳理论折射率基础上，换算得到未知核桃壳厚，相对误差为3．7％。分别从物理、化学指标光谱响应特征差异人手，实现太赫兹无损检测核桃品质。