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本文介绍了磁光静态磁参数测量用盘温控制系统的软硬件研制方法。硬件部分以8031单片机为核心包括数据采集、测量处理的温度控制部分，并利用单片机和上位机之间的双向通讯功能实现温度设定及显示；软件部分采用C语言和MCS51汇编语言编制，控温范围为0～1000℃，控温精度为±0．8℃。
测量静态磁光参数的盘温测控系统研制
【摘 要】
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本文介绍了磁光静态磁参数测量用盘温控制系统的软硬件研制方法。硬件部分以8031单片机为核心包括数据采集、测量处理的温度控制部分，并利用单片机和上位机之间的双向通讯功能
【机 构】
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华中理工大学电子科学与技术系
【出 处】
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磁记录材料
【发表日期】
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1998年4期
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