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极薄银在滤光片、高反射镜等中有广泛的应用，其光学常数严重影响着膜系的特性。在室温条件下，采用电阻热蒸发技术分别在硅和玻璃基底上沉积5.3 nm~26 nm不同厚度的极薄银薄膜，用TalySurfCCI非接触式轮廓仪测量了薄膜的厚度，研究了不同厚度银薄膜的光学常数n和k。镀制厚度5.3 nm、7.9 nm、14.1 nm、26.0 nm的银薄膜，结果显示极薄银的光学常数与块状银光学常数不同，当膜厚小于14.1 nm时，折射率n在380 nm～600 nm随波长增加而增加，在600 nm～1 600 nm随波