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提出了一种对二维数据严重重叠峰中待测组份进行分辨的新方法：子窗口分析法（ｓｕｂｗｉｎｄｏｗ ａｎａｌｙｓｉｓ，ＳＡ）。该方法充分利用重叠区信息，成功地解析出严重重叠峰中待测组份的光谱，进而利用正交投影求得待测组份色谱曲线．这种对二维数据进行局部分辨的方法，降低了对色谱分离条件的要求，可直接应用于未知组份的定性定量分析。