论文部分内容阅读
以SILICON公司的8位单片机C8051F020为核心,采用KNY12864液晶屏和双色LED电子光柱作为显示器件,设计了一种新型磨床使用的主动测量控制系统。通过在磨加工零件尺寸信号电平上叠加三角波进行数据过采样,利用过采样技术在C8051F020芯片12位AD转换基础上获得了16位的分辨率,减小了量化误差,提高了信噪比。