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介绍了通用DAC芯片的主要测量参数及其测试方法.并以12-bit高速DAC芯片ISL5861为例,利用Credence公司的数模混合信号测试系统Quartet实现对高速数模转换芯片进行测试.
基于Quartet测试系统的高速DAC芯片测试
【摘 要】
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介绍了通用DAC芯片的主要测量参数及其测试方法.并以12-bit高速DAC芯片ISL5861为例,利用Credence公司的数模混合信号测试系统Quartet实现对高速数模转换芯片进行测试.
【机 构】
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北京半导体行业协会测试中心
【出 处】
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电子工业专用设备
【发表日期】
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2005年8期
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