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为在不同散布表面拖拉下面的击碎的圆形的磁盘的压力紧张因素(SIF ) 与放大边界被评估有限元素方法(SBFEM ) 。在 SBFEM，在光线的方向的答案的分析优点允许 SIF 从它的定义直接坚定，因此没有特殊裂缝尖端处理是必要的。而且各向异性的材料行为能容易被对待。表面拖拉的不同分布为中心和 double-edge-cracked 磁盘被考虑。基准例子被建模，在在在出版文学的现在的学习和那些的结果之间的一个优秀协议被发现。它证明 SBFEM 是有效的并且拥有高精确性。受到不同表面拖拉的击碎的 orthot