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安捷伦科技于15日在北京举办了安捷伦首届纳米技术与测量解决方案研讨会。研讨会设有七大主题，分别是“安捷伦在纳米技术中的贡献”；“多用途的扫描探针显微镜”、“碳管场效应晶体管的纳米探测和评估”、“纳米器件的阻抗测量”、“纳米技术中的材料分析”、“使用脉冲发生器检定纳米器件”和“用于纳米技术研究的通用仪器”。在此次研讨会上，安捷伦原子力显微镜、半导体器件分析仪、阻抗分析仪、材料分析仪、脉冲发生器和其它通用仪器的专家们，在会议现场进行了测量仪器的演示。