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模数转换器（ADC）在测控系统中应用广泛，针对嵌入式ADC复杂环境下的电磁敏感性问题，通过理论分析和实验测量研究了环境温度对其电磁敏感度的影响。结合ADC结构与特性，分析了射频信号对ADC的干扰机制，指出了环境温度对于扰信号作用下的金属氧化物半导体（MOS）漏电流的影响。在不同温度下，测量、分析了电磁干扰下各部分电路参数的变化情况。并在10MHz～1GHz频率范围、-10～80℃温度范围内测量了ADC电磁敏感度的温度效应。结果表明，变化的环境温度会通过影响MOS晶体管的迁移率，改变其在电磁干扰下的响应，造