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利用阳极氧化技术制备了多种多孔硅(PS)样品,测出其结构参数,并摄得相应的SEM微观形貌图片.针对多孔硅的结构特点,确立相应的离散分形布朗随机增量(DFBIR)场模型,应用图像处理方法,求出不同PS微观图像的分形参数.发现了PS结构参数和分形参数的内在联系与规律性,为PS的定量化研究提出了新的方法