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双能量X射线图像系统使用将高能和低能透射信号相结合的方法（计算出与有效原子序数相关的特征值R）来识别物质，但物体的厚度对双能量透射图像的R值有很大影响．提出了用两种能量透射信号比来消除物质厚度影响，通过复化辛甫森公式得到优化的透射信号估算面积吸收系数，以此来代替透射信号用以识别物质的一种改进的数值计算优化算法，通过实验数据分析和对该算法的错误概率分析证明此算法可以大大减小厚度的影响，误判率减小，从而提高物质分类识别的准确性．