XPS分析微波等离子体处理的PTFE/陶瓷复合介质材料表面成分

来源 :真空科学与技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:lsgaoyan2009
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采用不同气氛等离子体处理PTFE/陶瓷复合介质材料,利用XPS分析了处理样品表面成分的变化,发现等离子体处理导致表面F的含量降低和O的含量增加。高分子表面出现了不同成分的含氧基团,且随着时间的增加,微波功率的增大,-CF2基因减少,含氧基因增加,这表明不同氛等离子体与PT-FEC表面的作用是刻蚀,脱氟,交联和氧化同时并存,其中以氧等离子体刻蚀最为严重。
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