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为了进一步研究贴片元器件性能,介绍了一种基于探针台的测量系统。该系统包括上位机界面控制和下位机测量系统控制。上位机界面是由VC++设计完成;下位机是以MSP430F449单片机为核心,并在外围加以双极性A/D转换芯片AD574设计完成。最后,通过RS232串口使上位机和下位机完成了通信。测试结果表明,该探针台系统可以方便、精确地给出测量结果。