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通过SEM（Scanning Electron Microscope）背散射照片和EDX（Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy）成分分析研究了无铅钎料Sn3．5Ag0．75Cu与Au／Ni／Cu焊盘接头在老化过程中其界面金属间化合物（IMC）的生长演变过程；在175℃温度条件下老化72h后发现Cu可以穿过Ni层参与形成界面金属间化合物（Au，Ni，Cu）Sn4和（Au，Ni，Cu）6Sn5；基于金属间化合物生长动力学理论计自得该焊点结构中AuSn4生长的活化能为53．7